PCT老化试验箱饱和PCT老化试验箱

关键词：PCT老化试验箱

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　　饱和PCT老化试验箱 APCT-S系列

　　PCT老化试验箱（又称PCT高压加速老化试验机）可模拟半导体、PCB、IC、LCD等试品PCT测试所需严苛温度、湿度及高气压综合环境以验证产品封装耐压性气密性。

　　产品介绍

PCT高压加速老化试验箱（又名PCT老化试验箱）是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，主要是模拟气候环境测试产品在不同温度、湿度及压力下密封性、气密性的试验设备。其广泛应用于电子器件、汽车零配件、塑胶、线路板、IC、LCD、LED、磁铁等行业。

　　PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。 依据试验湿度饱和度可划分为：饱和高压加速老化试验箱及非饱和高压加速老化试验箱 非饱和高压加速老化试验机试验标准及方法：MS IEC 60068-2-66-2008 环境试验第2-66部分-试验方法试验Cx-稳态湿热(不饱和加压蒸汽) PCT高压加速老化试验箱应用领域：航空航天国防军工汽车机电信息通讯能源材料行业定制